X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析

フォーマット:
図書
責任表示:
宇田川康夫編
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 学会出版センター, 1993.2
形態:
x, 222p ; 21cm
著者名:
宇田川, 康夫(1943-) <DA07271607>  
シリーズ名:
日本分光学会測定法シリーズ ; 26 <BN00151985>
書誌ID:
BN08713353
ISBN:
9784762257087 [4762257087]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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