超精密計測がひらく世界 : 高精度計測が生み出す新しい物理

フォーマット:

図書

責任表示:

計量研究所編

言語:

日本語

出版情報:

東京 : 講談社, 1998.5

形態:

331, 19p ; 18cm

著者名:

工業技術院計量研究所 <DA01436646>  

シリーズ名:

ブルーバックス ; B-1215 <BN00081030>

書誌ID:

BA35775114

ISBN:

9784062572156 [406257215X]