残留応力のX線評価 : 基礎と応用

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フォーマット:

図書

責任表示:

田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著

言語:

日本語

出版情報:

東京 : 養賢堂, 2006.7

形態:

vii, 363p ; 21cm

著者名:

書誌ID:

BA77874054

ISBN:

9784842503844 [484250384X]

子書誌情報

所蔵情報

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詳細

その他の標題:	Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications 残留応力のX線評価 : 基礎と応用 Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
主題:	応力
分類・件名:	NDC9 : 501.32 NDLSH : 応力
注記:	参考文献: 各章末欧文タイトルは標題紙裏による欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
タイトルのヨミ、その他のヨミ:	ザンリュウオウリョクノ Xセンヒョウカ : キソトオウヨウ
その他のタイトルのヨミ、その他のヨミ:	ザンリュウオウリョクノエックスセンヒョウカ : キソトオウヨウ
TTLL:	jpn
著者名ヨミ:	タナカ, ケイスケスズキ, ケンジアキニワ, ヨシアキ

内容紹介

目次情報

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