シリコンの物性と評価法

フォーマット:
図書
責任表示:
小間篤 [ほか] 共著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 丸善, 1987.7
形態:
x, 251p ; 22cm
著者名:
小間, 篤 <DA01319234>  
シリーズ名:
電子材料シリーズ <BN00201165>
書誌ID:
BN01165985
ISBN:
9784621031858 [4621031856]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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1 図書 表面物性工学ハンドブック

小間, 篤

丸善
7 図書 シリコンにおける急速熱アニーリングと評価

材料技術資料センター

材料技術資料センター
2 電子ブック 表面物性工学ハンドブック

小間, 篤

丸善
8 図書 表面物性工学ハンドブック

小間, 篤, 八木, 克道(1939-), 塚田, 捷, 青野, 正和(1944-)

丸善
3 学位論文 化学堆積金属/Si微粒子の物性

阿部, 弘規

群馬大学工学研究科
9 学位論文 金属と多孔質シリコンの複合ナノ微粒子の作製と評価

細谷, 直貴

群馬大学工学研究科
4 学位論文 Si系材料を用いた光学素子の作製と評価に関する研究

菊池, 秀輔

群馬大学工学研究科
10 図書 機械材料学 : 物性と評価

石井, 勇五郎(1913-)

日刊工業新聞社
5 図書 シリコンにおけるB+及びP+イオンの打込みと評価

材料技術資料センター

材料技術資料センター
11 図書 表面・界面の電子状態

小間, 篤

丸善
6 図書 表面物性測定

小間, 篤, 荒川, 一郎

丸善
12 図書 試料作製技術

小間, 篤

丸善