残留応力のX線評価 : 基礎と応用

フォーマット:
図書
責任表示:
田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明共著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 養賢堂, 2006.7
形態:
vii, 363p ; 21cm
著者名:
書誌ID:
BA77874054
ISBN:
9784842503844 [484250384X]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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