著者典拠情報

標目形：
植草, 秀裕(1964-)||ウエクサ, ヒデヒロ
属性：
Personal
場所：
東京都
日付：
1964
注記：
「X線結晶構造解析入門 : 強度測定からCIF投稿まで」(化学同人, 2014.9) 奥付頁による
東京工業大学大学院理工学研究科助教授 (2016.3現在)
慶應義塾大学理工学部化学科卒業
慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了
理学博士
SRC:X線結晶構造解析入門 : 強度測定からCIF投稿まで / 大場茂・植草秀裕著
EDSRC:結晶構造精密化SHELXLの使い方 / 大場茂, 植草秀裕著(三共出版, 2016.3) 奥付の著者略歴により、著者の所属・学歴を追加 (2016.4.18)
著者典拠ID：
DA18089081


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1. 理工系学生のための基礎化学 (無機化学編)
植草秀裕 [ほか] 著
出版情報: 京都 : 化学同人, 2023.4
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2.

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2. 結晶構造精密化SHELXLの使い方
大場茂, 植草秀裕著
出版情報: 東京 : 三共出版, 2016.3
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3.

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3. X線結晶構造解析入門 : 強度測定からCIF投稿まで
大場茂, 植草秀裕著
出版情報: 京都 : 化学同人, 2014.9
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