走査型電子顕微鏡による溶接部破壊面のフラクトグラフィ集

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フォーマット:

図書

責任表示:

松田福久,中川博二著

言語:

日本語

出版情報:

大阪 : 黒木出版社, 1979.12

形態:

301p ; 31cm

著者名:

書誌ID:

BN11712687

ISBN:

(標準破面編)

子書誌情報

所蔵情報

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詳細

主題:	材料試験; 溶接
分類・件名:	NDC8 : 566.6 NDLC : PD51 NDLC : M215 NDLSH : 溶接 NDLSH : 材料試験
注記:	参考文献:p16
タイトルのヨミ、その他のヨミ:	ソウサガタデンシケンビキョウニヨルヨウセツブハカイメンノフラクトグラフィシュウ
TTLL:	jpn
著者名ヨミ:	マツダ, フクヒサナカガワ, ヒロジ

内容紹介

目次情報

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